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1、仪器简介

该仪器具有超高分辨率,能做各种固态、粉末样品的表面形貌观察及图像处理。配有高性能的X射线能谱仪(EDS),可进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析。广泛应用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析,是纳米材料粒径测试和形貌观察的最有效仪器,也是研究材料结构与性能关系不可缺少的重要工具。

2、仪器型号及生产厂家

电镜厂家:捷克泰思肯(TESCAN),型号:MIRA3

   能谱仪厂家:德国布鲁克(BRUKER),型号:Quantax 400 with Xflash  5010     Detector(123ev)

3、技术参数 

最低分辨率:1nm

放大倍数:4-100万倍

加速电压:1KV-30KV

探头:二次电子、背散射及In-Beam探头

样品室:内部300mm(宽)*420mm(深)超大样品室 

 

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